掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數通常在幾百倍到數十萬倍之間。這個范圍可以根據具體的SEM系統、樣品制備方法和檢測條件有所不同。一般來說，SEM可以提供以下級別的放大：

· 低放大倍數：幾十倍到幾百倍

· 中等放大倍數：幾百倍到幾千倍

· 高放大倍數：幾千倍到數萬倍

特殊類型的SEM，如場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），因為具有更高的分辨率，可能達到更高的放大倍數，甚至超過數十萬倍。

另外，值得注意的是掃描隧道顯微鏡（STM）雖然不是電子顯微鏡的一種，但它在分辨率上極為出色，能夠達到原子級，其放大倍數可高達數億倍，分辨率可達0.1埃，這意味著STM能夠分辨出單個原子。

相比之下，光學顯微鏡由于受到光波長的限制，其有效放大倍數大約在1000倍到1500倍之間，盡管理論上可以更高，但實際上超過這個范圍會導致圖像模糊不清，無法提供更多細節信息。

綜上所述，掃描電子顯微鏡提供了廣泛且強大的放大能力，適用于觀察樣品的微觀結構，而掃描隧道顯微鏡則在原子尺度的觀測上展現出極高的性能。?